手持式X熒光光譜儀在用于現(xiàn)場測量時，總會有一些因素會造成誤差，影響測量的效果，但這些因素其實可以避免，下面我們來談?wù)勗鯓诱_使用手持式X熒光光譜儀，避免現(xiàn)場測量誤差。
? ? ? ?在現(xiàn)場測量中，巖石表面凹凸不平，巖石的結(jié)構(gòu)也不同，不均勻，手持式X熒光光譜儀的探頭放置在上面時，同位素源于巖礦表面距離往往不能與標(biāo)準(zhǔn)測量時完全相同。這種距離的變化只要毫米數(shù)量級就會引起較大的誤差，特別在測量輕元素，中等元素時（如P,S,Ti,Cu,Fe,Zn,Cr,Mo等），因此，進行現(xiàn)場測量時要選擇巖石露頭比較平坦的新鮮表面，對于極不平坦的巖石露頭，應(yīng)該人工加以整平，力求做到與標(biāo)準(zhǔn)測量條件相同。
? ? ? ?在測量方法上，手持式X熒光光譜儀應(yīng)在原來位置多次重新安放探頭，并相應(yīng)測出數(shù)據(jù)，取其平均值，可以達到與制作標(biāo)準(zhǔn)曲線時的測量條件基本一致。因為這種因巖石表面不平整產(chǎn)生的誤差屬于偶然誤差范疇，只要有足夠多次的變位測量，其偶然誤差的平均值將趨于零。