在使用X熒光光譜儀時應該注意什么呢？當X熒光光譜儀在使用過程中出現問題時我們應該怎么解決呢？以下我們進行簡單的答疑。
1、做進料檢驗，比如含量99.5的Fe2O3等，我們的機器沒有衰減器，分析鐵時強度高于5000KCPS，遠超過了SC規(guī)定的2000KCPS，覺得我該怎么做好些？
（1）樣品制備時采用的稀釋比例加大
（2）用FeKβ線，強度可降低一倍
（3）我也遇到了這個問題，我們班原來的做法是降低電流電壓，對你可能不太適用，因為你的雜質元素如果還要測量的話，可能比較困難，不過可以看看
（4）壓樣法，可以加入淀粉然后再壓。
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2、熔融玻璃扣片時內有氣泡的原因，如何避免？
可能的原因：熔融溫度不夠或溫度過高；稀釋比例太小，樣品太多；搖晃幅度不夠；坩堝的材料與“玻璃”浸潤。
3、X熒光光譜儀基本校正方法？
用標樣來校正。
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4、用XRF測磁芯材料中的鉛，要求是100PPM以下，是否可以測量？
100PPM以下的鉛含量完全可以測，但是不能太小，比如幾個PPM就比較難測了，想對其有個準確的定量必須買標樣，標樣里面肯定有鉛。
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5、最近單位的X熒光光譜儀經常出現紅色的警報，內容： tank temperature too high 或者 tank temperature too low。儀器狀態(tài)跟蹤顯示溫度非常不穩(wěn)定，不能穩(wěn)定在29~31攝氏度這一穩(wěn)定范圍，是不是水冷系統(tǒng)出現了問題，還是環(huán)境達不到規(guī)定的要求？
（1）應該是跟水冷沒有關系，XRF的水冷只用來冷卻X tube個高壓箱的。
（2）水冷應該有自己的警報系統(tǒng)。應該是分析室的溫度，會收到環(huán)境溫度的影響。
（3）可能的原因有兩個：電熱系統(tǒng)損壞；周圍環(huán)境變化太大使電熱系統(tǒng)無能為力。
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6、X熒光光譜儀器，檢測口放一銅片的作用？
（1）有的手持式的在頭部裝有一個校正的樣品，同時在不用的時候也可以保護X射線發(fā)射源。
（2）銅塊作用一是能量校正，二是在不測其他樣品時擋住窗口起保護作用。
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7、進行合金分析的時候，比如測定硅錳中的Si時，用什么進行校正要好些？
（1）用喊Si量接近待測何金鐘Si含量的合金標樣校正。
（2）基體校正這個說法不正確。如果說基體校正的話，你所做的試樣中錳和鐵能對其構成基體上的影響。
實際上，你可能是由于線性不好，所以覺得應該做“基體校正”。
原因是：可能是定值還得在準確一些；制樣上的偏差比較大。
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8、為什么X熒光光譜儀測定壓片樣中的Sb含量時樣片厚度有影響？
（1）原子序數較低的元素（或基體）對能量較高的譜線吸收系數較低，因此無限厚度也就大一點
（2）Sb的K線能量較高，能穿透更厚的樣品（相對本樣品中的其他元素的特征射線），所以飽和厚度也就比其他元素厚。
